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该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构,常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等
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该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构,常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等。支持实时成像和累计曝光两种工作模式,最长曝光时间达30分钟,最短可至毫秒。空间分辨率高、用户界面直观。
┃ 设备特点
PSEL软件定向误差低至0.05度
多晶硅片二维定向mapping
大批量样品筛选
超20kg重负荷样品定位
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