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PSEL劳厄衍射系统

产品简介

该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构,常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等

产品型号:
更新时间:2025-09-25
厂商性质:经销商
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        该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构,常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等。支持实时成像和累计曝光两种工作模式,最长曝光时间达30分钟,最短可至毫秒。空间分辨率高、用户界面直观。



┃ 设备特点


  • PSEL软件定向误差低至0.05度

  • 多晶硅片二维定向mapping

  • 大批量样品筛选

  • 超20kg重负荷样品定位

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