产品中心
当前位置:首页产品中心测试设备光学测试设备Sendira红外光谱椭偏仪
Sendira红外光谱椭偏仪
product
测试设备
17710506869
article
原位XAS、XRD和Raman对催化剂的相形态表征
深入了解下行星球磨仪的运行原理
您实验室的安全卫士---全固态、模块化高纯高压加氢工作站
材料力学性能试验解决方案
精密阻抗分析仪的日常维护要点:确保设备稳定运行的秘诀
实验室的各种清洗解决方案
SENDIRA红外光谱椭偏仪振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带,分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。
光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度,折射率,消光系数以及体材料,单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的,现在也可以进行测量。同时可以分析材料的组成和大分子基团和分子链的走向。
上一个:PSEL劳厄衍射系统
下一个:超景深显微镜
在线留言
服务热线:18600717106