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Sendira红外光谱椭偏仪

产品简介

SENDIRA红外光谱椭偏仪振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR

产品型号:
更新时间:2024-11-18
厂商性质:经销商
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        SENDIRA红外光谱椭偏仪振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带,分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。


        光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度,折射率,消光系数以及体材料,单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的,现在也可以进行测量。同时可以分析材料的组成和大分子基团和分子链的走向。

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