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产品简介

原位电学测试平台，适用于半导体材料、器件变温下的电学测试，设计小巧，便携集成显微、光谱系统

产品型号：
更新时间：2024-11-18
厂商性质：经销商
访问量：251
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原位电学测试平台，适用于半导体材料、器件变温下的电学测试，设计小巧，便携集成显微、光谱系统。



┃ 设备特点


  • 温度范围 -190℃～600℃，RT~1000℃

  • 温度稳定性 ±0.05℃

  • 气氛保护、真空

  • 样品区 28x30mm

  • 探针数量 4个

  • 电学接头 BNC 三同轴BNC 可选

  • 台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选

  • 适配光学仪器 显微镜 光谱仪 铁电 介电 电化学工作站 磁场 电学源表 半导体分析仪 DLTS

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