产品中心
Product Center设备介绍 允许进行多功能和创新的纳米级热分析 √ 精确评估薄膜和微粒的导热系数 √ 使用三维扩散模型揭示各向异性的热导率 √ 量化深层界面的热边界导热系数 √ 在微观尺度上可视化热性能分析
随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代
型号:DektakXTDektakXT探针式轮廓仪采用革命性的台式设计,可实现4Å(0.4nm)的优异重复性,扫描速度可提高40%
DimensionFastScan原子力显微镜(AFM)系统经过专门设计,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性,不带来繁琐操作的前提下,即可实现快速扫描