设备介绍 允许进行多功能和创新的纳米级热分析 √ 精确评估薄膜和微粒的导热系数 √ 使用三维扩散模型揭示各向异性的热导率 √ 量化深层界面的热边界导热系数 √ 在微观尺度上可视化热性能分析

随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代

以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列

型号：DektakXTDektakXT探针式轮廓仪采用革命性的台式设计，可实现4Å（0.4nm）的优异重复性，扫描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力显微镜（AFM）系统经过专门设计，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性，不带来繁琐操作的前提下，即可实现快速扫描

BrukerDimensionlcon”原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择，其测试功能强大，操作简便易行