产品中心
Product Center
精密离子减薄仪
产品简介
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电气,综合 |
PIPS Ⅱ 精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行准确控制。
PIPS Ⅱ 精密离子减薄仪设备特点：
使用 X、Y 样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点
改进低电压性能的离子枪，有用电压低至 100 伏，从而快速安全地对 FIB 制备的TEM样品进行抛光
利用 DigitalMicrograph 软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析
10 英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有 PIPS II 参数
公司深耕国内科研市场近十年，以中科院等专业院所背景的技术力量为依托， 为国内各大科研机构及材料研究客户提供科研仪器设备和专业技术服务。公司以代理国内外材料化工方向的仪器设备为核心业务，产品覆盖材料制备、表征、光、热、 电、磁等研究领域。
当前位置：
上一个：
返回列表
