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Product Center低温探针台系列
低温探针台主要用于电学、磁学、微波、THz、光学等多种测量,可以根据客户需要,选择不同的温度和磁场配置。客户可以选择自己搭配测试仪表集成各类测试,也可以选择我们的整体测试解决方案,如电输运测试、半导体分析测试、霍尔效应测试、铁电分析测试,集成光学测试等。
┃ 设备特点
±2.5T磁场,可定制5T磁场
低温至1.6K,高温至675K
可测8英寸晶圆样品
67GHz高频探针
3 kV 高电压探针
大温区低温漂探针
真空腔联用传送样品
<30 nm低振动适用于显微光学测量
霍尔效应、铁电、半导体分析测试选件